扫描电子显微镜 JEOL_JSM_6500F

发布时间:2011-10-30 0:00:00
扫描电子显微镜 JEOL_JSM_6500F
扫描电子显微镜
型 
号:JEOLJSM 6500F
生产厂家:日本电子株式会社(JEOL Ltd.)
启用日期:2004年3月
仪器简介:
真空度: < 10-7 Pa
分辨率: 1.5 nm
加速电压: 0.5 kV ~ 30 kV
放大倍率: X 10 ~ X200,000
入射束流: 几pA ~ 200 nA
探测系统: SE探头、BSE探头
最大样品尺寸:F32 mm,高10 mm
附件配置:
EDAX/TSL公司Genesis 7000 X-射线能谱仪 (EDS) 与电子背散射衍射仪(EBSD)一体化分析系统
:
低、中、高倍率形貌观察
元素分析5B ~ 92U
晶体学分析
用 :
各种固体材料的高分辨形貌观察、微区元素分析及晶体学分析(微织构、相鉴定等)。
联系人: 吉元
010-67392251
E-mail:
jiyuan@bjut.edu.cn

eltier冷台:-5℃~+50℃

功   能:
低、中、高倍率形貌观察
用  途:
  广泛应用于各种导电材料、绝缘材料、生物材料及含水材料等固体材料的形貌观察和元素(5B-92U)分析。非导电样品不需要表面导电处理,可直接在低真空和环境真空模式下进行成像及成分分析。

联系人:张隐奇
010-67392251
E-mailzhangyingqi@bjut.edu.cn
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