透射电子显微镜 JEM-2010

发布时间:2011-10-18 0:00:00


透射电子显微镜
型 号:JEM-2010

生产厂家:日本电子株式会社 (JEOL Ltd.)
启用日期:2004年5月
仪器简介:
点分辨率:0.19nm
最小束斑: 1nm
晶格分辨率:0.14nm
放大倍数: ×50-×1500,000
最大加速电压:200KV
另配备有Oxford Link-ISIS X射线能量色散谱仪,单倾样品台和双倾样品台±30° (for HR,HC)
功能包括
低、中、高倍数的形貌观察(TEM)以及高分辨观察(HRTEM),电子衍射分析(ED,CBD,NBD)以及能量色散谱(EDS)等。
用  途:
  对各种材料的物质表面及内部进行形貌观察,电子衍射分析及高分辨电子显微术研究,晶体结构及晶体性能进行研究,配合能谱仪可以对各种元素进行定性、定量及半定量的微区分析,广泛应用于高分子材料、催化剂、润滑材料、地质矿物、金属沙漠、生物医学等方面。
联系人徐学东
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