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主要仪器设备

 

场发射透射电子显微镜
仪器型号
: JEM-2010F
仪器厂家:日本电子株式会社(JEOL)
起用日期: 2004年1月
仪器简介:
最大放大: 150万倍 (1,500,000×)
点分辨率: 0.19 nm
加速电压: 80KV、100KV、120KV、200KV
晶格分辨率:0.102 nm
最小束斑尺寸: 0.5nm
样品台: 普通单、双倾台,铍单、双倾台
最大倾转角:X=±35°,Y=±30°
X射线能谱仪(EDS) 元素分析范围:B5~U92
X射线能谱仪能量分辨率: 138 eV
能量过滤系统:
(GIF) (美国Gatan公司) 采集电子能量损失谱(EELS)和能量过滤的电子显微图象等用途。
功能范围:
2010F是涵盖能量过滤,场发射分析的TEM/STEM仪器,并带有HAADF STEM,它利用微区电子衍射、会聚束电子衍射及元素分析可对小至0.5纳米的物质进行结构和成分分析,元素分析范围为硼(B5)~铀(U92),因而特别适用于普通电镜难以分辨的微细析出相、界面、畴等极细小区内成份、结构及高分辨结构象研究;利用所配置的GIF系统可采集样品的电子能量损失谱,进行相应的分析工作;普通电镜的功能:晶体取向标定以及晶体结构、晶体缺陷、结构向的观察等。
联系人孙威
  010-67396167
E-mail: weisun@bjut.edu.cn