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其他专技人员

王丽实验师

       1998 年毕业于北京工业大学机电学院机械设计与制造专业。2008 年获北京工业大学固体微结构与性能研究所材料学硕士学位,同年留校工作。主要从事扫描电子显微学,电子背散射衍射(EBSD)技术的分析测试及研究工作。
主要学术成果
1. Y.Ji,L.Wang, Y.Q.Zhang, B.Wei, J.H.Wang, Y.L.Cheng, H.L.Suo, Distinguishing crystallographicmisorientations of lanthanum zirconate epilayers on nickel substrates by electron backscatter diffraction,Ultramicroscopy, 111, 314–319 (2011).
2. L.Wang, Y.Ji, B.Wei, Y.Q.Zhang, J.Y.Fu, X.D.Xu, X.D.Han, Charge compensation by in-situ heating for insulating ceramics in scanning electron microscope,Ultramicroscopy,109,1326-32 (2009).
3. Y.F. Zhang,L. Wang, Y. Ji, X.D. Han, Z. Zhang,R. Heiderhoff, A.-K.Tiedemann, L. J. Balk,
Thermal Conductivity Studies of a GaN-Sapphire Structure by Combined Scanning Thermal
Microscopy and ElectronBackscatter Diffraction,IEEE Proceedings of 16th IPFA - 2009,China.
4. 王丽, 田彦宝, 张隐奇, 吉 元, NiW合金原位拉伸形变的电子背散射衍射分析,电子显微学报27(6), 443-446 (2008).
5.王丽,付景永,吉 元,张隐奇,徐学东,钱鹏翔,氧化铝的加热荷电补偿
究, 真空科学与技术学报, 27 (6): 531-534 (2007).
6. Yuan Ji,Li Wang,et al. Charge Contrast Imaging of Nonconductive
amples in the High-Vacuum Field Emission Scanning Electron Microscope.
Scanning 29(5):230-237 (2007).